Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée - Pierre Richard Dahoo

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Pierre Richard Dahoo , Philippe Pougnet , Abdelkhalak El Hami

Iste éditions | juillet 2016
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Ce que dit l'éditeur

Fiabilité des systèmes multiphysiques

Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l'intégration en synergie de la mécanique, de l'électronique, de l'automatique et de l'informatique dans la conception et la fabrication d'un produit en vue d'optimiser sa fonctionnalité.

Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites.

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.

Résumé

Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit sont plus particulièrement traitées. ©Electre 2025

Caractéristiques

Éditeur(s)
Date de parution
27 juillet 2016
Collection(s)
Génie mécanique et mécanique des solides
Rayon
Dictionnaires thématiques
EAN
9781784051655
Nombre de pages
289 pages
Reliure
Broché
Dimensions
24.0 cm x 16.0 cm x cm