Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste - Pierre Richard Dahoo

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Pierre Richard Dahoo , Philippe Pougnet , Abdelkhalak El Hami

Iste éditions | décembre 2021
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Résumé

Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement. ©Electre 2025

Caractéristiques

Éditeur(s)
Date de parution
10 décembre 2021
Collection(s)
Génie mécanique et mécanique des solides
Rayon
Technologie, techniques industrielles
EAN
9781784057947
Nombre de pages
232 pages
Reliure
Broché
Dimensions
24.0 cm x 16.0 cm x cm